# Raster-Tunnel-Mikroskop - Interaktive Visualisierung

Interaktive Visualisierung von Quantentunnelung und atomarer Auflösung

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- **Kategorie:** Physics

## Überblick

Interactive visualization of Scanning Tunneling Microscope (STM) demonstrating quantum tunneling and atomic-resolution imaging. Features the fundamental equations: tunneling current I ∝ V·ρ_s(E_F)·ρ_t(E_F)·e^(-2κd) where V is bias voltage, ρ are density of states at Fermi level, κ = √(2mφ/ħ²) is decay constant (~10 nm⁻¹), d is tip-sample distance; transmission probability T ≈ e^(-2κd); constant current mode: feedback adjusts z(x,y) to maintain fixed I, mapping surface topography; constant height mode: fixed z, I(x,y) maps local density of states; spectroscopy: dI/dV ∝ ρ_s(E_F + eV) probes electronic structure. Real-time visualization includes: (1) STM setup animation showing metallic tip (W, Pt-Ir with work function 4.26-5.30 eV) positioned above conductive sample surface with atomic lattice visualization, animated electron tunneling events with exponential decay visualization, piezoelectric scanner controls; (2) Quantum tunneling display showing potential energy diagram with tip/sample energy levels, vacuum barrier (work function φ), wavefunction decay ψ(z) ∝ e^(-κz), transmission probability calculation with real-time κ display; (3) Raster scan pattern visualization showing serpentine scan path, current position marker, scan progress, scan size (1-50 nm) and speed (10-200 lines/s) controls; (4) Atomic-resolution image generation with multiple surface options (graphene hexagonal lattice, Si(111) 7×7 reconstruction, Au(111) herringbone pattern, Cu(111) surface), color-coded height mapping with Ångström scale bar, real-time image buildup during scanning. Interactive parameters: operation mode (constant current/constant height/spectroscopy), bias voltage (-3.0 to +3.0 V), setpoint current (0.1-10.0 nA), feedback gain (1.0-20.0), scan speed (10-200 lines/s), scan size (1-50 nm), tip material (W φ=4.55 eV, Pt-Ir φ=5.30 eV, Au φ=5.10 eV, Ag φ=4.26 eV), tip radius (1-50 nm). Display options: show/hide electron tunneling animation, feedback loop indicators, wavefunction decay curves, atomic scale grid. Presets include: Atomic Resolution (high gain, slow scan), Spectroscopy (low current, high voltage), Large Area Scan (fast speed), Fast Imaging. Educational content covers working principle (quantum tunneling, exponential current-distance dependence I ∝ e^(-2κd), atomic resolution mechanism: ~0.1 nm lateral, ~0.01 nm vertical), instrument design (sharp tip preparation, piezoelectric scanners, vibration isolation, UHV requirements), operation modes (constant current for topography, constant height for LDOS, STS for electronic structure), spectroscopy applications (dI/dV mapping, I-z curves measuring work function, identifying defects, molecular orbitals, superconducting gap, Kondo resonance), historical milestones (1981 Binnig & Rohrer invention, 1983 Si(111) 7×7 imaging, 1989 Eigler's "IBM" atomic manipulation, 1993 quantum corral, graphene characterization, Majorana fermion detection), and applications (surface science, 2D materials, molecular manipulation, superconductivity, catalysis, biological imaging). Nobel Prize: Binnig & Rohrer 1986. Multi-language support (zh, en, de, fr, es, pt, ru).

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